PD在线局部放电测试仪的优越点介绍
GIS局部放电主要由下列缺陷引发：
1)载流导体表面缺陷：如毛刺，尖角等引起导体表面电场强度不均匀，这种缺陷通常是在制造或安装时造成的，在稳定的工频电压下不易引起击穿，但在操作或冲击电压下很可能引起击穿；
2)绝缘子表面缺陷：如制造质量**，绝缘子有气泡或裂纹，安装**下的污迹，尘埃等；3)GIS筒内在制造和安装过程中存在的自由导电微粒；
4)导体部分接触**。
局部放电特高频法（UHF）是近年来发展起来的现场检测技术，它通过检测GIS内绝缘隐患在运行电压下辐射的电磁波，来判断GIS内部是否发生局部放电。UHF特高频法的*大优特是可有效地抑制现场噪声（如电晕放电），且对所有类型的局放缺陷均具有较高的敏感度。由于UHF信号频率高，具有很强的穿透性，在经过绝缘子时可以通过绝缘子与金属法兰的接缝辐射到GIS外部，故可使用体外检测方式，在盆式绝缘子外部测量到GIS内部的UHF信号。而对于新安装或大修后**在GIS内部的悬浮微粒缺陷，采用超声波法通常具有较好的检测效果，并且可以确定缺陷的部位。
1)同时测量局部放电产生的超高频和超声波信号，能充分发挥两种不同检测技术的优点，保证了对各种缺陷的检测灵敏度，提高了在复杂现场干扰环境下局部放电信号的辨识能力；
2)采用体外检测技术，只要把UHF特高频传感器靠近运行中的GIS盆式绝缘子附近，或者把AE超声波传感器贴在GIS金属外壳上，就可对GIS内部可能存在的局部放电缺陷进行检测，不需对GIS做任何的改动，也不需停电，更不会影响GIS的正常运行；
3)灵敏度高达5pC，完全满足现场检测的要求；
4)实时显示8种局部放电图谱，包含了当前国际上流行的全部分析功能，并辅以简单明了的Meter 显示模式，为分析局部放电类型及特征提供有效手段。
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