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局部放电测试仪总线技术的回顾与展望

在测试测量领域，局部放电测试仪总线技术的发展历来是工程师和科学家们*为关心的部分。从上世纪60年代推出的专用于仪器控制的GPIB总线，到现在被广泛使用的USB、VXI、PXI和*新推出的LXI、PXI Express，不断涌现的新型总线技术在帮助我们的工程师更快捷高效的完成测量任务的同时，也引起了行业内专家们的广泛争论，究竟哪一种总线将会主宰未来的测试测量领域呢？

未来的趋势——混合总线的测试系统

先让我们回顾一下历史，无论是GPIB还是串口，都已经在测试行业应用超过了数十年，但至今仍有很多的工程师在继续使用或购买相应的仪器。再来看看几乎已经退出PC历史舞台的ISA总线，在现在的一些工控机里我们仍旧可以看到ISA插槽的身影，甚至有不少厂商还在生产基于 ISA总线的数据采集卡和GPIB控制卡，满足一部分客户的需求。可以说，任何一种总线都有其在行业内独特的优势，没有一种总线会**到可以取代其它任何的总线。

所谓混合总线的测试系统，就是在一个系统中集成多个自动化测试平台的不同部件，包括PXI， PCI， GPIB， VXI， USB， LAN和LXI等不同的总线。从工程师的角度来看，当设计一个测试系统时，往往需要平衡多方面的因素。现在的产品变的越来越复杂，对混合信号测试的要求也就越来越高，这样就需要利用不同总线测试平台的优势，搭建一个混合的测试系统来满足测试的需求。例如您的系统可能需要像PXI和PCI Express等模块化局部放电测试仪总线所提供的高吞吐量和优良的集成性，同时也可能需要基于USB或者LAN（包括LXI）的分立式仪器，完成一些特定的测试功能。此外，使用混合的系统，工程师们可以很容易的在现有的系统上进行升级或是添加新的部件，而无需重新设计整个系统。同时，这样的混合系统对软件的架构提出了更高的要求，希望无论是在驱动服务层还是在应用软件层都能对不同的总线平台进行无缝的支持，也就是说，一个统一的软件架构将成为整个混合测试系统的核心。

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